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雙探頭表面三維形貌分析系統(tǒng)
產(chǎn)品介紹產(chǎn)品介紹： 采用彩色激光共焦技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面微米、次微米級(jí)粗糙度檢測(cè)，并且可以進(jìn)行2D輪廓/3D微觀形貌掃描分析，具有測(cè)量精度高，速度快，重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn)。 該系統(tǒng)可用于測(cè)量大尺寸樣品，軟件功能含括了點(diǎn)測(cè)量、線測(cè)量、面測(cè)量等強(qiáng)大的功能，可選模塊包括2D&3D粗糙度檢測(cè)與分析、2D輪廓測(cè)量與3D形貌分析、平面度檢測(cè)、共面度檢測(cè)、平行度檢測(cè)等。 本系統(tǒng)特點(diǎn)： 一、采用傳動(dòng)裝置：直線磁軸電機(jī)驅(qū)動(dòng) 二、專業(yè)集成設(shè)計(jì) 三、豐富的三維計(jì)測(cè) 四、多樣的三維觀察
技術(shù)參數(shù)技術(shù)參數(shù)：
電動(dòng)臺(tái)參數(shù)：
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FM-AR532/AR785原子力顯微鏡與激光拉曼光譜儀一體機(jī) 對(duì)納米材料表面形貌、顆粒度、粗糙度和拉曼光譜性能進(jìn)行表征、分析 |
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FM-Nanoview1000AFM 分體式原子力顯微鏡 帶光學(xué)定位的CCD觀測(cè)系統(tǒng)，實(shí)時(shí)觀測(cè)與定位探針樣品掃描區(qū)域 |
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FM-Nanoview6800一體式原子力顯微鏡 開(kāi)啟全民原子力顯微鏡時(shí)代，掃描范圍更廣，定位更精確 |
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自由曲面三維面型檢測(cè)系統(tǒng) |
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原子力顯微鏡（環(huán)境控制型）FM-Nanoview EC-AFM |
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原子力顯微鏡光學(xué)一體機(jī) FM-Nanoview Op-AFM |
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