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探頭掃描式原子力顯微鏡FM-Nanoview LS-AFM
產品介紹◆ 實現(xiàn)樣品保持不動，探針移動掃描的商業(yè)化原子力顯微鏡； ◆ 樣品尺寸、重量幾乎不受限制，特別適合超大的樣品檢測； ◆ 樣品臺可拓展性強，非常便于進行多儀器聯(lián)用實現(xiàn)原位檢測； ◆ 電動控制樣品移動臺和升降臺，可任意編程多點位置實現(xiàn)快速自動化檢測； ◆ 龍門架式掃描頭設計，大理石底座，真空吸附和磁性吸附式載物臺； ◆ 集成掃描器非線性校正用戶編輯器，納米表征和測量精度優(yōu)于98% 技術參數
應用案例 二維光柵/掃描范圍15µm×15µm
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FM-AR532/AR785原子力顯微鏡與激光拉曼光譜儀一體機 對納米材料表面形貌、顆粒度、粗糙度和拉曼光譜性能進行表征、分析 |
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FM-Nanoview1000AFM 分體式原子力顯微鏡 帶光學定位的CCD觀測系統(tǒng)，實時觀測與定位探針樣品掃描區(qū)域 |
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FM-Nanoview6800一體式原子力顯微鏡 開啟全民原子力顯微鏡時代，掃描范圍更廣，定位更精確 |
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自由曲面三維面型檢測系統(tǒng) |
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原子力顯微鏡（環(huán)境控制型）FM-Nanoview EC-AFM |
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原子力顯微鏡光學一體機 FM-Nanoview Op-AFM |
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